15640436639
產(chǎn)品中心
當前位置：首頁 > 產(chǎn)品中心 > 實驗室分析設(shè)備 > 膜厚分析設(shè)備
產(chǎn)品分類CLASSIFICATION
EQ-TM106膜厚監(jiān)測儀是采用石英晶體振蕩原理，結(jié)合*的頻率測量技術(shù)，進行膜厚的在線監(jiān)測。主要應(yīng)用于MBE、OLED熱蒸發(fā)、磁控濺射等設(shè)備的薄膜制備過程中，用于對膜層厚度及鍍膜速率進行實時監(jiān)測。
關(guān)注公眾號